ZEM18電鏡助力PCB板質(zhì)量檢測(cè)與過(guò)程控制
日期:2023-10-24
隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,PCB印制板作為電子產(chǎn)品的重要組成部分,其質(zhì)量好壞直接影響電子設(shè)備的性能和可靠性。但是,PCB板在生產(chǎn)和使用過(guò)程中也會(huì)出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題,如焊接不牢、短路、開(kāi)路、走線間距不均等缺陷。為提高PCB質(zhì)量,需要對(duì)PCB板進(jìn)行檢測(cè)與質(zhì)量控制。
目前,光學(xué)顯微鏡是PCB檢測(cè)的主要手段,但由于分辨率限制,很難觀測(cè)到微米甚至亞微米級(jí)的細(xì)微缺陷。而澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列掃描電鏡具有納米級(jí)分辨率,可清晰呈現(xiàn)PCB板表面微細(xì)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB質(zhì)量問(wèn)題的可視化檢測(cè)。
在焊點(diǎn)檢測(cè)方面,ZEM18電鏡可以在高倍率下觀察焊點(diǎn)表面形貌、焊錫蔓延情況,檢測(cè)出冷焊、空焊、虛焊等問(wèn)題,為PCB焊接質(zhì)量控制提供依據(jù)。在走線檢測(cè)方面,ZEM18電鏡可以顯示走線的線寬、線間距信息,檢查走線是否出現(xiàn)短路或斷線。另外,ZEM18電鏡配置EDS能譜系統(tǒng),可對(duì)焊料成分進(jìn)行元素分析,判斷焊料是否存在成分偏差。
不僅用于成品檢測(cè),ZEM18電鏡還可應(yīng)用于PCB制造過(guò)程質(zhì)量控制。例如,對(duì)PCB板截面進(jìn)行拍攝和分析,考察內(nèi)層銅箔、預(yù)浸料、電鍍銅層之間的結(jié)合方式,為PCB工藝優(yōu)化提供依據(jù)。損壞電阻照片可以顯示電阻引腳與PCB板之間焊接質(zhì)量問(wèn)題。PCB板電鍍層的截面照片可以顯示內(nèi)外銅層之間的粘結(jié)力,而焊點(diǎn)照片可以檢測(cè)出釬面的形貌及焊料成分等信息。
ZEM18電鏡的高分辨率成像與元素分析功能,實(shí)現(xiàn)了PCB制造與質(zhì)量控制過(guò)程的可視化,提升了過(guò)程控制能力,有助于生產(chǎn)出更高質(zhì)量的PCB產(chǎn)品。
以上就是澤攸科技對(duì)ZEM18電鏡助力PCB板質(zhì)量檢測(cè)與過(guò)程控制的介紹,關(guān)于掃描電鏡價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。
作者:澤攸科技