Inorg. Chem.:澤攸科技光電桿應用于新型產(chǎn)氫系統(tǒng)
澤攸科技光電桿應用于新型產(chǎn)氫系統(tǒng),PicoFemto原位光學-電學樣品桿在TEM中構建了原位光電連用測試系統(tǒng),通過外接650 nm激光器對樣品施加光信號,同時利用STM電學測量系統(tǒng)對樣品的光電效應進
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-12-21
澤攸科技光電桿應用于新型產(chǎn)氫系統(tǒng),PicoFemto原位光學-電學樣品桿在TEM中構建了原位光電連用測試系統(tǒng),通過外接650 nm激光器對樣品施加光信號,同時利用STM電學測量系統(tǒng)對樣品的光電效應進
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-12-21
澤攸科技的PicoFemto原位力學-電學樣品桿在透射電鏡中構建了力學-電學測試平臺,穩(wěn)定操縱樣品并精確施加/測量定量的力學、電學信號,在載荷分辨率(nN級別)及電流分辨率(nA級別)上都展
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-11-01
澤澤攸科技原位系統(tǒng)應用于固態(tài)氧鈉電池,PicoFemto系列原位樣品桿在該研究中作為電池模型的載體,穩(wěn)定而精確完成了測樣區(qū)域選擇以及施加電場等任務。值得一提的是,澤攸科技獨創(chuàng)的雙用載
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技的PicoFemto系列原位樣品桿在該研究中作為電池模型的載體,穩(wěn)定而精確完成了測樣區(qū)域選擇以及施加電場等任務。值得一提的是,澤攸科技獨創(chuàng)的雙用載樣方案,相比于傳統(tǒng)的STM探針
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技原位樣品桿應用于半導體器件,利用STM-TEM原位樣品桿搭載單根氧化鋅納米線,并在TEM中原位操縱、測量和觀測。研究表明,當我們使用STM探針對氧化鋅納米線施加2.63%的應力后,該材料
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技原位桿應用于鋰電研究,利用高分辨TEM結合掃描探針式原位樣品臺,原位觀測了SnS2的充放電過程。研究表明,鋰離子電池的充電過程是一個快速發(fā)生的兩相反應。在通電后,SnS2與Li離
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡(TEM)中精確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調(diào)節(jié)精確、過程可逆并且還具有較高重復性,對基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技原位TEM-STM系統(tǒng)原位焊接,中國石油大學、燕山大學和西安交通大學聯(lián)合公開了一項在環(huán)境透射電子顯微鏡(ETEM)中利用原位亞納米操縱探針實現(xiàn)納米陶瓷材料焊接的技術,相關研究成
MORE INFO → SEM原位解決方案 2020-09-23