掃描電鏡可以檢測到以下幾種主要信號：

二次電子：用于成像，能夠提供樣品表面的形貌信息。

背散射電子：用于成像，能夠提供樣品的成分對比信息。

特征X射線：用于成分分析，通過能譜儀（EDS）檢測可以確定樣品中的元素組成。

俄歇電子：用于表面成分分析，適用于非常淺的表面層分析。

陰極發(fā)光：用于分析樣品的光學性質(zhì)，通常用于半導體和礦物分析。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡信號檢測的介紹。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。