使用掃描電鏡觀察納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)和顆粒需要一些特殊的準(zhǔn)備和操作步驟。以下是一般的步驟：

樣品制備：樣品制備是關(guān)鍵的一步。樣品須被精心制備以確保其適合在掃描電鏡下觀察。通常包括樣品的切割、拋光和清潔。對(duì)于納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)和顆粒，還需要特殊的技術(shù)來處理樣品以確保納米尺度的細(xì)節(jié)得以保留。

真空處理：掃描電鏡工作在真空環(huán)境中，因此樣品需要在觀察之前進(jìn)行真空處理。這有助于減少空氣和水分子對(duì)樣品的干擾，同時(shí)提高成像的清晰度。

涂覆導(dǎo)電層：由于電荷的積聚會(huì)干擾圖像質(zhì)量，因此通常需要在樣品上涂覆薄導(dǎo)電層，如金屬或碳。這可以通過濺射、蒸發(fā)或噴涂等技術(shù)來實(shí)現(xiàn)。

加載樣品：將樣品放置在掃描電鏡的樣品艙中，并確保正確安裝和定位。

調(diào)整參數(shù)：根據(jù)樣品的特性和所需的成像細(xì)節(jié)，調(diào)整掃描電鏡的加速電壓、探針電流、放大倍數(shù)等參數(shù)。

進(jìn)行觀察：通過掃描電鏡軟件控制掃描電鏡進(jìn)行觀察。使用不同的成像模式，如二次電子成像(SEM)或反射電子成像(BSE)，以獲取所需的信息?？梢酝ㄟ^調(diào)整對(duì)比度、亮度等參數(shù)來優(yōu)化圖像質(zhì)量。

數(shù)據(jù)分析：獲取圖像后，可以使用相關(guān)軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理和分析，以量化納米級(jí)別結(jié)構(gòu)和顆粒的特征，如尺寸、形狀、分布等。

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)：保存和記錄所有觀察到的數(shù)據(jù)和圖像，以備將來參考和分析。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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