掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。

在SEM中，電子束從電子槍中產(chǎn)生并聚焦到樣品表面，然后經(jīng)過(guò)探測(cè)器進(jìn)行信號(hào)采集。電子束的聚焦和成像是通過(guò)在樣品和電子槍之間的電場(chǎng)進(jìn)行調(diào)節(jié)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。工作距離是指樣品表面到電子槍的距離，它直接影響了電子束的聚焦和成像。

當(dāng)工作距離發(fā)生變化時(shí)，電子束在樣品表面的聚焦效果也會(huì)發(fā)生變化，進(jìn)而影響到圖像的大小和清晰度。通常情況下，當(dāng)工作距離增加時(shí)，電子束會(huì)擴(kuò)散并失去焦距，導(dǎo)致圖像變得模糊并且可能會(huì)出現(xiàn)尺寸變化。相反，當(dāng)工作距離減小時(shí)，電子束會(huì)更好地聚焦在樣品表面上，圖像將更清晰并且尺寸可能會(huì)變小。

因此，在進(jìn)行SEM圖像采集時(shí)，需要盡量保持恒定的工作距離，以確保獲得一致和可比較的圖像。此外，還應(yīng)該在進(jìn)行圖像分析和測(cè)量時(shí)考慮到工作距離的影響，以確保獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

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