9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學(xué)大會(huì)）將在韓國釜山BEXCO會(huì)議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會(huì)！

國際顯微學(xué)大會(huì)（International Microscopy Congress）是由國際顯微學(xué)聯(lián)合會(huì) (IFSM)舉辦的國際顯微學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)性會(huì)議。大會(huì)每4年召開一次，吸引來自全球上千名學(xué)者專家參會(huì)，大會(huì)同期舉辦聯(lián)合會(huì)全體大會(huì)，選舉該組織新一屆領(lǐng)導(dǎo)層。第一屆大會(huì)于1954年在荷蘭德爾夫特召開。

圖. 澤攸科技展位圖

澤攸科技是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)科學(xué)儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機(jī)、臺(tái)階儀、探針臺(tái)等科學(xué)儀器，立志成為具有國際先進(jìn)水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡、JS系列臺(tái)階儀等在類的多個(gè)產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。

ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡同時(shí)兼具成像質(zhì)量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，可同時(shí)搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺(tái)，擁有多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi)，將您的透射電鏡打造成功能強(qiáng)大的納米實(shí)驗(yàn)室。

PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測試模塊集成進(jìn)掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國釜山國際顯微學(xué)大會(huì)。