澤攸科技亮相第十三屆納博會(huì)
三月一日至三日，澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測(cè)量及半導(dǎo)體加工設(shè)備，應(yīng)邀出席第十三屆國(guó)際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)納博會(huì)）。
MORE INFO → 公司新聞 2023-03-02
三月一日至三日，澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測(cè)量及半導(dǎo)體加工設(shè)備，應(yīng)邀出席第十三屆國(guó)際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)納博會(huì)）。
MORE INFO → 公司新聞 2023-03-02
近日，澤攸科技作為牽頭單位承擔(dān)的“高通量生物樣品真空傳遞裝置”項(xiàng)目獲國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃“基礎(chǔ)科研條件與重大科學(xué)儀器設(shè)備研發(fā)”重點(diǎn)專(zhuān)項(xiàng)立項(xiàng)支持。本項(xiàng)目針對(duì)電子顯微鏡樣品制備、換樣流程效率低的現(xiàn)狀，擬研制高通量生物樣品真空傳遞裝置，填補(bǔ)市場(chǎng)空白，并實(shí)現(xiàn)應(yīng)用示范和產(chǎn)業(yè)化推廣。澤攸科技團(tuán)隊(duì)自20世紀(jì)90年代起投入電子顯微鏡高端附...
MORE INFO → 公司新聞 2022-12-09
澤攸精選國(guó)產(chǎn)科學(xué)儀器：臺(tái)式掃描電鏡，SEM，STM，原位電鏡系統(tǒng)，臺(tái)階儀，CVD，二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái)（全部自主研制）
MORE INFO → 公司新聞 2022-11-07
澤攸科技受邀亮相2022年非金屬礦產(chǎn)品及制品相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)研討會(huì)，非金屬礦是支撐國(guó)家經(jīng)濟(jì)建設(shè)的重要原輔材料，相關(guān)產(chǎn)業(yè)為國(guó)民經(jīng)濟(jì)和社會(huì)發(fā)展做出了巨大的貢獻(xiàn)。近年來(lái)，我國(guó)非金屬礦工業(yè)取得了長(zhǎng)足發(fā)展，產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)不斷優(yōu)化，經(jīng)濟(jì)效益大幅提升，綠色、創(chuàng)新、可持續(xù)發(fā)展能力持續(xù)增強(qiáng)，我國(guó)非金屬礦行業(yè)正朝高質(zhì)量發(fā)展方向穩(wěn)步邁進(jìn)，逐步實(shí)現(xiàn)由非金屬...
MORE INFO → 公司新聞 2022-11-07
先進(jìn)聚合物基復(fù)合材料以其高比強(qiáng)、高比模、耐腐蝕、耐輻照、抗疲勞性能好、性能可設(shè)計(jì)性強(qiáng)、便于整體成形，以及綜合性能優(yōu)異等特點(diǎn)而在航空、航天、兵器、艦船和電子等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。
MORE INFO → 公司新聞 2022-08-19
先進(jìn)聚合物基復(fù)合材料以其高比強(qiáng)、高比模、耐腐蝕、耐輻照、抗疲勞性能好、性能可設(shè)計(jì)性強(qiáng)、便于整體成形，以及綜合性能優(yōu)異等特點(diǎn)而在航空、航天、兵器、艦船和電子等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。 界面作為復(fù)合材料特有的組成部分，對(duì)復(fù)合材料的性能起著重要作用，諸多材料科學(xué)問(wèn)題的解決都依賴(lài)于對(duì)界面認(rèn)識(shí)的進(jìn)一步深化。聚合物基復(fù)合材料界...
MORE INFO → 公司新聞 2022-08-17
臺(tái)式掃描電子顯微鏡又稱(chēng)臺(tái)式掃描電鏡，電子顯微鏡通過(guò)電子束對(duì)樣品成像，實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡無(wú)法實(shí)現(xiàn)的高倍放大，是我國(guó)的卡脖子技術(shù)，也是現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具。 安徽澤攸科技有限公司，是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)裝備制造公司。公司集研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售業(yè)務(wù)于一體，向客戶提供原位電鏡解決方案、掃描電子顯微鏡等設(shè)...
MORE INFO → 公司新聞 2022-01-07
眾所周知，掃描電子顯微鏡是由帶負(fù)電的電子束作為光源激發(fā)樣品產(chǎn)生信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)界面的微觀觀測(cè)。理論上，越高的電子束發(fā)射能量會(huì)帶來(lái)越高的分辨率和圖像襯度。但是實(shí)際測(cè)試過(guò)程中并不是發(fā)射能量越高越好，高能量的電子束一方面可能損傷樣品，另一方面會(huì)在導(dǎo)電性較差的樣品表面聚集，從而極大影響觀測(cè)效果。目前比較常用的樣品制備手段是利...
MORE INFO → 公司新聞 2021-11-10